TenuPol-5 用于对金属导电试样进行自动电解减薄，以获得电子束可穿透的薄区试样，并用于TEM下的结构表征。通过使用内置扫描功能和其他增强功能，可以轻松设置新材料的参数，并将这些参数存储在方法数据库中。TenuPol-5 中包含两个单独单元，即控制单元和抛光单元或变薄单元。

（1）快速测定方法设置

TenuPol-5 配有独特的扫描功能，此功能扫描一个预定义的电压范围，以确定电流密度曲线。此曲线用于定义变薄过程的正确抛光电压，允许用户存储参数，以便在对材料样品进行单次扫描后重新查找正确的方法设置。TenuPol-5 带有过滤器和增强功能，便于找到用于抛光和刻蚀的正确电压设置。

（2）全面的方法数据库

内置的方法数据库中包含 18 种 Struers 方法和最多 200 种用户方法。这 18 种方法中包括用于预变薄的8 种方法，和用于最终变薄各种材料的 10 种方法。这意味着用户可以立即制备各种材料，而不用进行耗时的试验操作。用户也可以使用数据库中的方法作为基础，开发适用于其他材料的自有方法。

（3）高质量试样

同时从双侧抛光试样，从而提供具有绝对最少变形的结构。当出现穿孔时，抛光可由红外探测器系统自动停止，并制备用于透射电镜的试样。无需进行特殊的操作员培训。