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Micro/Nano CT
本设备型号为：蔡司Xradia 515 Versa
服务周期：
5-10个工作日
预约次数：
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蔡司Xradia 515 Versa特色功能

定位和扫描（Scout-and-Scan）控制系统

40×物镜可实现500 nm的空间分辨率以及小至40 nm的体素

基于同步辐射口径光学元件的两级放大架构

用于系统/样品保护的SmartShield

可实现高性能的系统稳定性

选配的平板探测器（FPX）可实现大观察视野成像

选配的高级重构工具箱可增强性能

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