首页 Thermo Themis Z-威海 FEl Titan Cube-北京 Thermo Spectra 200-长沙 Thermo Themis Z-长沙 Thermo Spectra Ultra-长沙 F30-长沙 F20-湘潭 Talos-深圳 Talos-苏州 F20-长沙 SEM5000场发-长沙 SEM4000场发-南京 SEM3100钨灯丝-长沙 Thermo Scientific Scios 2-长沙 Thermofisher Scios 2-深圳（同轴TKD） TESCAN AMBER-苏州（TOF-SIMS） Cryo-Helios5-长沙（冷冻FIB） Helios5 CXe-佛山（PFIB） 冷冻透射电子显微镜（Cryo-TEM） 球差校正透射电子显微镜 透射电镜（TEM） 场发射扫描电镜（SEM） 生物扫描电镜（SEM） 生物透射电镜(TEM) Mirco-CT三维成像 原子力显微镜AFM 立式金相显微镜 体式显微镜 超景深显微镜 白光干涉仪 EBSD测试 同轴TKD测试 旋进电子衍射(PED） FIB-TEM制样 FIB-微纳加工 FIB-纳米/微米柱加工 FIB-APT样品制备 FIB-三维重构 FIB-冷冻FIB加工（Cryo-FIB) FIB-原位TEM样品制备 FIB-原位SEM样品制备 PFIB-微纳加工 室温拉伸—板状小尺寸 室温拉伸—常规尺寸 室温拉伸—循环加载 室温拉伸—细丝 室温拉伸—薄带 高温拉伸—板状小尺寸 高温拉伸—常规尺寸 低温拉伸 室温压缩—准静态压缩 室温压缩—循环加载 高温压缩 高温压缩-Gleeble 室温三点弯曲 高温三点弯曲 硬度测试—显微维氏硬度 维氏硬度 洛氏硬度 室温纳米压痕 摩擦磨损 低周疲劳测试 高温蠕变实验机 三维原子探针(APT) X射线光电子能谱仪（XPS） ICP-MS ICP-OES 电子探针(EPMA) 氧氮氢分析仪 碳硫分析仪 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS) X射线衍射仪（XRD） 微区XRD 拉曼光谱（Raman） 傅立叶红外光谱（FTIR） 紫外/可见/近红外漫反射测试 电阻率测量仪 纳米粒度及Zeta电位分析仪（DLS） 激光粒度仪 介电测试 接触角/表面张力测量仪 全自动比表面及孔隙度分析仪（BET） 同步热分析（TG-DSC） 导热系数仪（Hotdisk） 差示扫描量热法(DSC) 热重（TG） 热膨胀仪 总部-离子减薄仪（Gatan） Struers电化学双喷仪 震动抛光机 金刚石线切割 金相自动磨抛机 金相镶样机 电火花线切割 TEM样品制备 导电材料电火花切割 不导电材料金刚石线锯切割 IM4000II离子研磨仪制样 热等静压机 箱式炉 热等静压 样品热处理 小型冷轧机 放电等离子烧结 二维应变-DIC 图形定量分析 EBSD数据处理与分析 SEM/EDS/EBSD三维重构数据分析 TEM数据分析 APT数据分析 电化学腐蚀 金相观察与分析 金相显微镜 X项目下单链接 原位拉伸TEM 原位加热TEM 原位压缩TEM 原位拉伸SEM 原位弯曲SEM 原位加热SEM 原位微柱压缩SEM 原位SEM拉伸--微米尺寸 原位加热EBSD 原位拉伸EBSD 原位XRD 高压高比容钽电容器的制备方法 高温合金发动机叶片失效分析与整体评估 钛合金板材冲击断裂韧性偏低的原因探究 CPU芯片三维切片与失效机理分析 稀土优化承轴钢评估方法和工艺开发 高耐磨自润滑氮化硅陶瓷球的烧结工艺评估与开发 CPU芯片三维切片与失效机理分析 稀土优化承轴钢评估方法和工艺开发 高耐磨自润滑氮化硅陶瓷球的烧结工艺评估与开发 Composites Part B: Engineering：一块“高强高韧”的钛合金“板砖” 登上《自然》封面！长沙理工大学学者找到晶硅太阳能电池变“柔”机理 IMS最新成果：稀土Ce微合金化实现铸态TC4钛合金强韧化 重大突破！太阳能板可以像纸一样弯曲！ 《Scripta Materialia》：一种增材制造用高强耐热铝合金！ 长沙理工大学金属研究所刘玉敬教授入选全球前2%顶尖科学家榜单 湖南卫视《新闻大求真》节目组来我司采访 柔性太阳电池登上《自然》封面 单晶硅太阳电池可以弯曲？当然可以！ 首登《Nature》！理工大学学者取得重大突破 打破常规！柔韧性太阳能电池可以像纸一样弯曲 历时3年3校联合发表“令作者都不敢相信”的Acta Materialia论文 长沙理工大学金属研究所刘玉敬再次入选全球前2%顶尖科学家榜单 2024刘小春年度演讲暨“微创新与创造”攀登学术会议圆满结束！ 材料领域专家学者齐聚深圳共话前沿交叉与创新 “脱虚向实”学者论坛-001期|“7系超高强铝合金设计中元素与析出相的关系” 刘小春教授赴华中科技大学开展学术交流 刘小春教授赴西安开展学术交流 我所老师代表参加全国有色金属学术会议 凯普乐接待多方客户，共探科技发展与合作新模式 刘小春赴清华大学北京电子显微镜中心开展设备调研工作,圆满完成任务 中南大学李凯老师与王丽老师来凯普乐指导交流 2023年赛默飞长沙轻金属微观表征研讨会成功举办 凯普乐科技创始人一行前往中国船舶第七二五所交流座谈 刘小春受邀在中南大学名师名家学术论坛作报告 DENS首席执行官Dr.Hugo Pérez-Garza一行人来凯普乐交流合作 刘小春教授受邀参加国仪电镜论坛暨安徽大学先进功能材料分析测试技术交流会 刘小春参加北大科创园第21期总裁沙龙共促创新赋能 宁波博威合金陈纪东主任与裴勇军经理一行参观凯普乐电镜中心 中科科美曹宏利总经理一行来凯普乐电镜中心交流与合作 “2022材料金属测试分析及模拟计算大会”在长沙圆满结束 2022 刘小春年度个人演讲 “脱虚向实”学者论坛-003期|Dragonfly三维重构与机器学习在材料科学中的应用 凯普乐电子显微分析中心&先进材料（务实）研究院联合人才招聘公告 凯普乐电镜中心F20和F30 EDS均恢复正常（对外开放） 深圳务实研究院电镜中心新增一台FIB（对外开放） 刘小春参加北大科创园《谈过往·畅未来，共话高质量发展》研讨会 X射线三维成像技术：可在1800度高温实现原位加载测试 关于召开“2023年材料表征与计算高登学术会议”的通知 推动材料科研创新发展，“2023攀登学术会议：材料表征与计算”在长沙理工大学举行 2023攀登学术会议召开 研讨材料表征与计算 刘小春教授Nature发表经验分享交流会 国仪量子董事长贺羽来凯普乐交流 刘小春教授荣获MRL颁发的“青年新锐奖” 湖南利德电子浆料股份有限公司刘飘总经理一行来凯普乐调研 中科院生物物理研究所孙飞研究员来凯普乐指导工作 “2023刘小春年度演讲：创新科研发展模式，学术与商业化并行”圆满结束！ 刘小春：创新科研发展模式 构建科学家合作生态 我国科研人员探索构建科学“家” 刘小春荣获首届新能源科技大会“优秀青年人才奖” 赛默飞世尔科技公司营销总监Kevin一行人来凯普乐交流合作 场发射SEM（7200F）常见问题 透射电镜原位拉伸样品杆常见问题 聚焦离子束显微镜（FIB）常见问题 球差校正TEM常见问题 场发射TEM (F30)常见问题 TEM原位拉伸常见问题 三维原子探针常见问题 金相分析-观察样品缺陷常见问题 金相分析--观察样品组织常见问题 金相分析-钛合金初生a含量分析常见问题 金相分析-涂层/沉积物/氧化物金相检测常见问题 IMS电镜中心接收TEM培训生公告与细节 一封关于打造科研命运共同体的倡议书 凯普乐长期招聘与人才引进计划 （联合）研究生培养方案实施细则 试行 凯普乐电子显微分析中心&先进材料（务实）研究院 联合人才招聘公告 致凯普乐全体成员的一封信 钛合金冲击断裂韧性偏低的原因：失效分析全流程解析 高温合金发动机叶片失效分析与整体评估 高压高比容钽电容器的制备方法 Low Background Double Tilt HiVis holder 球差透射双倾样品杆 电子伺服疲劳试验机 MIPAR分析型光学显微镜 TECNAI F20 TEM双倾样品杆专用螺丝 关于我们
登录/注册
{{userInfo.user_nickname}}
个人中心 退出登录
返回 原位TEM 原位加热TEM
原位加热TEM
采用芯片在透射电镜下原位观察加热过程中微结构的连续变化过程
服务周期：
一周左右
预约次数：
52
当现场/视频机时紧张时，请选择委托测试(无法远程)，委托测试可保证测试时效性
委托测试
客户须知

使用单倾杆，可提供加热过程中的形貌变化高清视频。

TEM原位加热实验是在TEM原位加热样品杆上实现，其过程是样品经过FIB焊接到样品杆前端的芯片上，芯片有加热功能。

案例展示
（1）钛合金在某温度下保温晶粒合并长大的过程。（2） 当原位加热Ni-Fe-LDH纳米材料时，在250°C下发生非晶化，然后在850°C下转变为NiO颗粒的非均匀结构，嵌入整个NiFe2O4基体，这已通过高分辨率TEM和扫描TEM得到证实。利用能量过滤TEM的进一步电子显微镜表征方法直接实时观察这些机械行为，显示血小板表面球形NiO纳米粒子阵列的演化和成核。这种表征方法的多功能性通过非原位加热Ni-Fe LDH材料的类似行为以及平行原位TEM和SAED与类似含镁铝（Mg-Al）LDH结构的比较得到验证。
常见的问题

问题一： 样品尺寸有多大？

回复：样品由FIB制样，焊接在TEM原位加热杆的芯片上，样品可观测的区域大约为2μmX2μm。

问题二： 样品加热过程中可做EDS面扫吗？

回复：样品加热前和加热后可做EDS面扫，加热过程中不可以。

关于我们
如您有合作意向，欢迎致电我们
测试咨询
合作与联系方式
主推服务
Thermo Themis Z-威海
Thermo Scientific Scios 2-长沙
SEM5000场发-长沙
电阻率测量仪
新闻动态
产品逆向设计
科研成果
学术活动
常见问题
关注或咨询我们
联系电话：0731-88102987
喻老师（7:00-21:00）
送样地址：湖南省长沙市雨花区万家丽南路二段688号中南总部基地3-B栋203号
© 凯普乐科技 2024 版权所有
友情链接：
湘ICP备2022008096号-1