超景深显微镜（Extended Depth of Field Microscope，EDF Microscope）是一种结合光学技术和图像处理算法的高精度显微成像设备，能够在不移动样品或物镜的情况下，通过单次拍摄获取大景深范围内的清晰三维图像。它广泛应用于材料科学、生物医学、工业检测等领域。

核心原理--景深扩展技术：

传统显微镜的景深（清晰成像的纵向范围）有限，超景深显微镜通过以下方式突破限制：

光学层扫：快速调整物镜焦点，沿Z轴（垂直方向）采集多张不同焦平面的图像。

图像融合：利用算法（如频域叠加、聚焦评价函数）将多张图像合成一张全焦面清晰的二维图像。

三维重建：通过Z轴层扫数据生成三维表面形貌（点云或网格模型）。

主要技术指标：

最大分辨率：0.56um

放大倍率：34X-2000X

XY行程范围：130 × 100 mm

Z行程：60 mm

最大载荷：4 kg

重复精度：±1 µm

绝对精度：± 5 µm