可观察压缩过程中金属样品的滑移、位错运动、孪晶或相变形成等特征，也有几率观察到纳米晶的形成。

单倾杆，可提供压缩变形过程中的视频，压缩过程可停止进行明场、暗场拍摄；拉前以及拉后可做EDS；FIB 制备 TEM 压缩用的纳米柱；同一状态样品测试多个平行样品，备样制备与 测试费用

样品制备要注意什么？

问题1：原位TEM压缩样品，能保证100%成功率吗？

回复1：不能，原位TEM压缩样品由FIB制备，制备完成压缩过程中有可能观测不到预期的形貌；

问题2：磁性样品可以做原位TEM压缩测试吗？

回复2：磁性样品可以做测试，样品用FIB制样，焊接牢固后可以测试。

问题3：原位TEM压缩样品可观察米析出相吗？

回复3：原位TEM压缩过程中，难于对于衬度不明显且尺寸小于30nm的纳米析出相进行表征，但是可以在压缩过程中通过暗场相拍照来捕捉纳米析出相和位错的交互作用。

问题4：原位TEM压缩有力学曲线吗？

回复4：原位TEM压缩没有力学曲线。

问题5： 样品尺寸有多大？

回复5：样品由FIB制样，焊接在TEM原位压缩杆的芯片上，样品可观测的区域根据具体的需求来准备，一般不超过500nmX1μm。

问题6： 样品压缩过程中可做EDS面扫吗？

回复6：样品压缩前和压缩后可做EDS面扫，加程压缩过程中不可以。