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TESCAN AMBER-苏州(TOF-SIMS)
TESCAN AMBER 新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力; 配置4个新一代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面; 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境; 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并独家实现与TOF-SIMS联用; 新一代操作软件和自动功能,FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中,极大简化了操作。
设备型号:
TESCAN AMBER
服务周期:
3-5工作日
预约次数:
45
当现场/视频机时紧张时,请选择委托测试(无法远程),委托测试可保证测试时效性
送样需知

样品高度不超过1.5cm,如有特殊尺寸或是镶样样品,请与我们联系确认,本电镜中心配备样品预处理所用大型设备,可提供前期处理服务,谢谢合作。

样品表面干净无污染,如有特征结构,需在SEM下可观察到此结构。

如需定点取样,需提供具体SEM取样位置图片,或采用视频会议方法取样(三十分钟内找到取样位置按个数计费,找样时间超过三十分钟按时间收费)。

制样需知

暂无法平面取样,如需平面取样可联系更换设备,样品导电性差需喷金/喷碳处理。

案例展示
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TOF-SIMS水平深度分布图结果
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电池阴极材料元素面分布图