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TESCAN AMBER-苏州（TOF-SIMS）
TESCAN AMBER 新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力; 配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面； 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境； 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，并独家实现与TOF-SIMS联用； 新一代操作软件和自动功能，FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中，极大简化了操作。
设备型号：
TESCAN AMBER
服务周期：
3-5工作日
预约次数：
42
当现场/视频机时紧张时，请选择委托测试(无法远程)，委托测试可保证测试时效性
现场预约 委托测试
送样需知

样品高度不超过1.5cm，如有特殊尺寸或是镶样样品，请与我们联系确认，本电镜中心配备样品预处理所用大型设备，可提供前期处理服务，谢谢合作。

样品表面干净无污染，如有特征结构，需在SEM下可观察到此结构。

如需定点取样，需提供具体SEM取样位置图片，或采用视频会议方法取样（三十分钟内找到取样位置按个数计费，找样时间超过三十分钟按时间收费）。

制样需知

暂无法平面取样，如需平面取样可联系更换设备，样品导电性差需喷金/喷碳处理。

案例展示
TOF-SIMS水平深度分布图结果
电池阴极材料元素面分布图
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